تعداد ۳ پاسخ غیر تکراری از ۳ پاسخ تکراری در مدت زمان ۶,۶۱ ثانیه یافت شد.

1. Design & test techniques for VLSI & WSI circuits

پدیدآورنده : edited by R.E. Massara

کتابخانه: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه صنعتي خواجه نصير الدين طوسى (طهران)

موضوع : ، Integrated circuits -- Very large scale integration -- Design and construction,، Integrated circuits -- Very large scale integration -- Testing,، Integrated circuits -- Wafer-scale integration -- Design and construction,، Integrated circuits -- Wafer-scale integration -- Testing

رده :

TK

7874

.

D4749

2. Design & test techniques for VLSI & WSI circuits

پدیدآورنده : edited by R.E. Massara

کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)

موضوع : Very large scale integration - Design and construction ، Integrated circuits,Very large scale integratation - Testing ، Integrated circuits,Wafer-scale integration - Design and construction ، Integrated circuits,Wafer-scale integration - Testing ، Integrated circuits

رده :

TK

7874

.

D4749

1989

3. Design & test techniques for VLSI & WSI circuits

پدیدآورنده : edited by R.E. Massara

کتابخانه: المكتبة المركزية ومركز المعلومات (خراسان رضوی)

موضوع : Very large scale integration -- Design and construction ، Integrated circuits,Very large scale integration -- Testing ، Integrated circuits,Wafer-scale integration -- Design and construction ، Integrated circuits,Wafer-scale integration -- Testing ، Integrated circuits

رده :

TK

7874

.

D4749

1989

»
1
«

تتم إدارة هذا الموقع عبر مؤسسة دار الحديث العلمية - الثقافية ومركز البحوث الكمبيوترية للعلوم الإسلامية (نور)
المكتبات هي المسؤولة عن صحة المعلومات كما أن الحقوق المعنوية للمعلومات متعلقة بها